| 产品展示 |
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ST5030-MAP
·用最小尺寸的斑点来测量亚微细
粒的样品
·同时可以使用多个斑点
·四种掩饰过程的半音测量法
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SPR
·丰富的标签技术
·实时监控
·批量芯片高速放映
·强大的影像处理
S/W | |
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| 联系方式 |
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科美仪器（昆山）研发有限公司
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电话：
+86-512-57900-888
传真：
+86-512-57900-688
E-mail：
sales@cn.kmac.to | |
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科美仪器北京办事处 |
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电话：
+86-10-6479-6853
传真：
+86-10-6479-6853
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科美仪器深圳办事处 |
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电话：
+86-755-2923-7650
传真：
+86-755-2923-7650
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台湾科美宜科股份有限公司 |
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电话：
+886-2-8751-3866
传真：
+886-2-8751-3877
E-mail：service@kmac.com.tw | 
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科美仪器韩国总公司 |
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生产中心
电话：
+82-42-9303-900
传真：
+82-42-9303-979
E-mail：
sales.kr@kmac.to |
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研发中心
电话：
+82-42-8686-888
传真：
+82-42-8686-867
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说明手册 |
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（共4册）,
*.PDF | |
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工艺技术 |
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